TIEMPO DE ENTREGA EN 10 a 15 DÍAS HÁBILES! Libros Importados - Categoria: Productos Express - Despacho Express - Despachamos a todo Chile
  • Inicio
  • Importados
  • Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) en suelos y otros materiales = Scanning Electron Microscopy (SEM) in soils and otrher materials
Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) en suelos y otros materiales = Scanning Electron Microscopy (SEM) in soils and otrher materials 1 Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) en suelos y otros materiales = Scanning Electron Microscopy (SEM) in soils and otrher materials 1
|

Microscopia Electrónica de Barrido (SEM) en suelos y otros materiales = Scanning Electron Microscopy (SEM) in soils and otrher materials

Descripción

Este libro te ayudará a guiarte en la materia o literatura, libro importado.

Detalles

Envio 10 a 15 días hábiles:
Este producto es importado, su fecha de entrega/envío es 10 a 15 días hábiles
Autor:
Editorial Universidad de Granada
ISBN:
9788433872227